（Bowman）BA-100 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。

（Bowman）镀层测厚仪即使在客户遇到严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。

Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。
Bowman BA-100 Optics 机型采用业界进的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

半导体器件越来越小巧而复杂，需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析，及重复性好的数据。

服务电子制造过程 （EMS、ECS）
结合采购和本地制造的组件及涉及产品的多个测试点，实现从进厂检查到生产线流程控制，再到最终质量控制。日立分析仪器的微焦斑XRF产品帮助您在全生产链分析组件、焊料和最终产品，确保每个阶段的质量。

我们的厚度测量仪器提供可靠、简单的操作以及准确的测量。具有功能强大，用户界面良好，从初级水平到双重技术的可扩展型等系列产品可供选择。

M2 BLIZZARD是我们公司推出的一款微区X射线荧光光谱仪，依据ASTMB568和DIN/ISO 3497，对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。采用开槽设计，适用于扁平形状和尺寸过大的样品，例如大型印刷电路板。该仪器采用视界的XSpect Pro软件进行控制。

M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）-92号（铀）中的元素。分析的样品类型：各种不同材料，如金属、合金、块体、溶液等。

M1 ORA是适用于珠宝行业的台式X射线镀层测厚仪，结构紧凑、占用空间小。

M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成，分析元素范围：原子序数22号（钛）以上的元素。

主要优点及应用

150μWT进口镀层测厚仪可支持特殊镀层厚度检测：化学镀镍钯浸金、钯、 镍、 铑等；

汽车零部件、线路板（PCB）镀层厚度检测

主要优点及应用

特殊镀层厚度分析仪：化学镀镍钯浸金、钯、镍、铑等；

汽车零部件、线路板（PCB）镀层厚度检测，如：电容；

单层、多层、合金镀层检测；

可同时检测合金镀层的厚度与成份比例；

多变量非线性去卷积曲线拟合；

高性能FP/MLSQ分析；

仪器尺寸：840×613×385mm；

样品台尺寸：620×525mm；

样品台移动范围：前后左右各100mm、高度5mm。

多镀层分析，1～5层；

检测精度：0.001 μm；

原素分析范畴从铝(Al)到铀(U)；

精确测量時间：10~三十秒；

SDD探测仪，动能屏幕分辨率为125±5eV；

探测仪Be窗0.5mil（12.7μm）；

多镀层分析，1～5层；

检测精度：0.001 μm；

原素分析范畴从铝(Al)到铀(U)；

精确测量時间：10~三十秒；

Si-PIN探测仪，动能屏幕分辨率为149±10eV（可选装SDD探测仪）；

微焦X射线管50kV/1米A，钼，铑靶（顶配微焦钼靶）；

多镀层分析，1～5层；

检测精密度：0.001 μm；

原素分析范畴从铝(Al)到铀(U)；

精确测量時间：10~三十秒；

SDD探测器，动能屏幕分辨率为125±5eV；

牛津仪器X-Strata920提供了简洁,经济的X射线测厚方案.标准配置包括:            

  50W功率钨靶微聚焦X射线光管,彩色相机30倍CCD放大,程控Z轴聚焦,            

  可选规格准直器(具体详见各配置包说明),基于Windows系统的牛津仪器            

  SmartLink® FP测试软件,简化版统计分析和报告生成软件 

XDL X－RAY光谱膜厚仪，是发展继承其前身FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B系列，其非破坏式的测量，特别适合五金的金属镀层厚度，测量快速、精确、无损.如一些五金零件、电路板及测量电镀槽中的金离子的含量