M2 BLIZZARD镀层测厚仪

开槽台式微区XRF光谱仪 M2 BLIZZARD

       M2 BLIZZARD是我们公司推出的一款微区X射线荧光光谱仪，依据ASTMB568和DIN/ISO 3497，对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。采用开槽设计，适用于扁平形状和尺寸过大的样品，例如大型印刷电路板。该仪器采用视界的XSpect Pro软件进行控制。

主要特性：
·  开槽构型，带可伸长的“大尺寸”样品台
·  可以调节槽缝间隙（10或20毫米）
·  设有大型、耐用的样品托盘，用于样品定位
·  优化XSpect Pro操作软件
·  XData软件用于应用程序，标准样品与数据库管理
·  可自定义设置用户界面和测试结果界面
·  具备波谱自动保存功能，用于测量后结果的再处理以及存档
·  用户设定公差，可以方便地判定“合格/不合格”
·  “峰值查找器”，用于定性分析未知样品
·  软件含有测试报告模板以供客户编辑使用
·  配置工业强度的脚踏开关，用于“开始/停止”测量（可选项）
·  可完全设置SPC软件，配合客户工艺需求（可选项）
·  仪器设计简洁坚固，一条USB电缆与PC连接

M2 BLIZZARD行业应用：

·  大型印刷电路板-PCB

·  半导体

·  材料科学