关于安原    分析仪器    iEDX-150μT 镀层分析仪
iEDX-150μT镀层分析仪

iEDX-150μT 镀层分析仪

主要优点及应用

特殊镀层厚度分析仪:化学镀镍钯浸金、钯、镍、铑等;

汽车零部件、线路板(PCB)镀层厚度检测,如:电容;

单层、多层、合金镀层检测;

可同时检测合金镀层的厚度与成份比例;

主要优点及应用

特殊镀层厚度分析仪:化学镀镍钯浸金、钯、镍、铑等;

汽车零部件、线路板(PCB)镀层厚度检测,如:电容;

单层、多层、合金镀层检测;

可同时检测合金镀层的厚度与成份比例;

 

可选用Capillary微焦点(35μm)检测样品;

可检测多层薄膜的膜厚(多达5层);

便捷的样品台操控;

可多点连续检测;

支持在线远程控制;

 

项目

Item

规格

Details

X射线管

X-ray generator

钼/铑/ 钨/ 银 (可选),50kV,1mA        Mo / Rh / W / Ag Target (Option), 50kV, 1mA

探测器

Detector

SDD(硅漂移探测器)                         SDD (Silicon Drift Detector)

分辨率

Resolution limit

125±5eV                                             125eV (Mn   Kα)

X射线焦斑

X-ray coverage

聚光纤(50~100μm)                      Poly capillary optics (50 ~ 100μm)

0.035mm(可调)                         0.035mm(adjustable)

测量范围

Measuring range

铝(13)~ 铀(92)                       Al (13) ~ U (92)

样本类型

Sample type

固体/液体/粉末,多层                      Solid / Liquid / Powder, Multi-Layer

样品室尺寸

Size of sample chamber

390×410×100mm(宽×深×高)      390 × 410 × 100 mm(W × D × H)

主要特征

Key features

- 自动/手动平台 - 常规镀层厚度检测,铑,钯,金,银,锡,镍- 可测多层薄膜的镀层厚度(多达5层)

- Auto / Manual Stage Mode - Plating thickness measurement general, Rh, Pd, Au, Ag, Sn, Ni

- Film thickness measurement of multilayer thin films (up to 5Layer).

摄像头

Camera properties

40~80倍                                 40 ~ 80 X

安全性

safety

3点联锁                                  3point interlock

报告类型

Type of report

Excel,PDF/输出自定义表单             Excel, PDF / output Custom form

 

测试结果界面(一):

 

测试结果界面(二):