iEDX-150T镀层测厚仪

主要用途

 iEDX-150T镀层涂层测厚仪运用于金属材料电镀工艺镀层分析行业；

性能指标

多镀层分析，1～5层；

检测精度：0.001 μm；

原素分析范畴从铝(Al)到铀(U)；

精确测量時间：10~三十秒；

SDD探测仪，动能屏幕分辨率为125±5eV；

探测仪Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射线管50kV/1米A，钼，铑靶（顶配微焦钼靶）；

6个准直器及好几个滤色片全自动转换；

 XYZ三维移动应用平台，MAX载荷为5公斤；

 超清CCD监控摄像头（200万清晰度），精确监管部位；

多自变量离散系统去卷积拟合曲线；

性能卓越FP/MLSQ分析；

仪器设备规格：618×525×490Mm；

样品台规格：250×220Mm；

样品台挪动范畴：上下左右各80mm、高宽比90mm。

图普界面

手机软件适用无标样分析；

宽敞分析服务平台和样品腔；

集成化了镀层分析界面和铝合金成分分析界面；

选用多种多样光谱仪线性拟合分析解决技术性；

镀层测厚分析精度可做到0.001μm。

分析汇报結果

立即打印出分析汇报；汇报可变换为PDF，EXCEL文件格式。

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样品分析图谱：

测试结果界面：

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