BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪

产品描述：
Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。

Bowman BA-100 Optics 机型采用业界进的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。

的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。

稳定的X射线管
        ● 微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量斑点
        ● 射线出射点预置于射线管Be窗正中央
        ● 长寿命的射线管灯丝
        ● 独有的预热和ISO温度适应程序

多毛细管聚焦光学结构
        ● 显著提高X射线信号强度
        ● 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度
        ● 小于100um直径的测量斑点
        ● 经过验证，接近完美的测量精度

应用领域：

常见的镀层应用:

  PCB行业
    Au/Pd/Ni/Cu/PCB

  引线框架
    Ag/Cu
    Au/Pd/Ni/CuFe

  半导体行业
    Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材
    Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

  线材
    Sn/Cu

  珠宝、贵金属
    10,14,18Kt

元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等