iEDX-100T金属材料镀层分析仪
多镀层分析,1~5层;
检测精密度:0.001 μm;
原素分析范畴从铝(Al)到铀(U);
精确测量時间:10~三十秒;
SDD探测器,动能屏幕分辨率为125±5eV;
检测精密度:0.001 μm;
原素分析范畴从铝(Al)到铀(U);
精确测量時间:10~三十秒;
SDD探测器,动能屏幕分辨率为125±5eV;
主要用途iEDX-100T金属材料镀层分析仪运用于金属材料电镀工艺镀层分析行业;
性能指标
多镀层分析,1~5层;
检测精密度:0.001 μm;
原素分析范畴从铝(Al)到铀(U);
精确测量時间:10~三十秒;
SDD探测器,动能屏幕分辨率为125±5eV;
探测器Be窗0.5mil(12.7μm);
微焦X射线管50kV/1米A,钼,铑靶(顶配微焦钼靶);
6个准直器及好几个滤色片全自动转换;
高清CCD监控摄像头(200万清晰度),精确监管部位;
多自变量离散系统去卷积拟合曲线;
性能卓越FP/MLSQ分析;
仪器设备规格:450×520×385毫米。
图普界面
手机软件适用无标样分析;
宽敞分析服务平台和试品腔;
集成化了镀层分析界面和铝合金成分分析界面;
选用多种多样光谱仪线性拟合分析解决技术性;
镀层测厚分析可做到0.001μm。
分析汇报結果
立即打印出分析汇报;汇报可变换为PDF,EXCEL文件格式。
样品分析图谱:
测试结果界面: