镀层测厚仪EDX8800H

产品特点：

1. 采用FAST SDD电制冷快速硅漂移探测器，单位时间接收的信息更多，信号处理速度更快，5秒即可出结果

FAST SDD与标准配置SDD探测器相比有更快的处理速度和更高的分辨率

2. 配套数字多道分析技术和信噪比增强系统，在超高计数率时依然能保持良好的峰背比和分辨率

在计数率接近20万测试时依然能保持良好的效率

3. 进口超薄铍窗牛津光管配套高效真空系统，使其在测试微量轻元素时轻松自如

某铝合金样品中Mg（镁）含量为0.03%的检出谱图

4. 对客户特殊需求可定制个性化解决方案

5. 某客户电池芯杆材料Pb（铅）含量要求管控在50ppm以下